服務(wù)熱線(xiàn)
021-64515839
021-64515829
| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,汽車(chē),電氣 |
德國(guó)EPK
德國(guó)ElektroPhysik(簡(jiǎn)稱(chēng)EPK)公司是一家專(zhuān)門(mén)生產(chǎn)測(cè)厚儀的專(zhuān)業(yè)公司，自1954年以來(lái)一直致力于測(cè)厚類(lèi)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和研究工作，是世界上生產(chǎn)測(cè)厚類(lèi)產(chǎn)品的公司之一。
半個(gè)多世紀(jì)以來(lái)，EPK公司作為測(cè)厚領(lǐng)域的公司，在這個(gè)領(lǐng)域取得很高的聲譽(yù)，有著不可替代的地位。EPK產(chǎn)品包括：MikroTest麥考特系列機(jī)械型涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 700系列創(chuàng)新型SIDSP涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 600系列電子型涂鍍層測(cè)厚儀，QUINTSONIC超聲波涂層測(cè)厚儀，GALVANOTEST庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 7200/7400 FH壁厚測(cè)厚儀，MiniTest 400系列超聲波測(cè)厚儀，CTM-S連續(xù)厚度測(cè)量系統(tǒng)，StratoTest 4100路面測(cè)厚儀，StratoTest 4100 C爐壁測(cè)厚儀，PoroTest 7涂層針孔檢測(cè)儀等。
主機(jī)參數(shù)
| 型號(hào) | MiniTest7400 |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 500 |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | 約250000個(gè)讀數(shù) |
| 統(tǒng)計(jì)值(每批組) | 讀數(shù)個(gè)數(shù)，Z大值，Z小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)，過(guò)程能力指數(shù)CP和CPK，直方圖，趨勢(shì)圖 |
| 校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
| 校準(zhǔn)模式 | 多5點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
| 極限值監(jiān)控 | 聲音、視覺(jué)報(bào)警提示超過(guò)極限值 |
| 測(cè)量單位 | μm，mm，cm，mils，inch，thou |
| 操作/存放溫度 | -10℃~60℃/-20℃~70℃ |
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA®1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器 |
| 電源 | 4節(jié)AA(LR06型)電池，或可選外接電源(90－240V～/48－62Hz) |
| 規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, AS3894; SS 1841 60, SSPC-PA 2, IMO-PSPC, ASTM B 244, B 499, D 7091, E376 |
| 顯示 | 160x160像素LCD帶背光 |
| 尺寸 | 153mmx89mm32mm |
| 重量 | 310g；(主機(jī)包括電池) |
探頭參數(shù)
注：HD探頭是針對(duì)于油漆或粉塵污染等惡劣環(huán)境設(shè)計(jì)的堅(jiān)固探頭，F(xiàn)2HD特別適用于粗糙表面。
德國(guó)EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性
| 標(biāo)準(zhǔn)探頭 | HD探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 重復(fù)性 (標(biāo)準(zhǔn)偏差) | Z小曲率 半徑 (凸/凹) | Z小測(cè)量 區(qū)域直徑(無(wú)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)) | Z小測(cè)量 | Z小基 體厚度 |
| F05 | F05HD | 0~0.5mm | 0.02μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 0.3mm |
| F1.5 | F1.5HD | 0~1.5mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 0.3mm |
| F1.5-90 | 0~1.5mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平面/5mm | 10mm | 5mm | 0.3mm | |
| F2HD | 0~2mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | - | 0.5mm | |
| F5 | F5HD | 0~5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | 0.5mm |
| F15 | 0-15mm | 1μm | ±(5μm±0.75%) | ±(2.5μm±0.5%) | 5/25mm | 25mm | 25mm | 1.0mm | |
| F35 | 0-35mm | 5μm | ±(20μm±0.75%) | ±(10μm±0.5%) | 50/50mm | 100mm | - | 1.5mm | |
| N0.2 | N0.2HD | 0~0.7mm | 0.02μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 40μm |
| N0.7 | N0.7HD | 0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 40μm |
| N0.7-90 | 0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平面/5mm | 10mm | 5mm | 40μm | |
| N2.5 | N2.5HD | 0~2.5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | 40μm |
| N7 | 0~2.5mm | 1μm | ±(5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 15/25mm | 23mm | 20mm | 40μm | |
| FN1.5 | FN1.5HD | F：0~1.5mm N：0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | F：0.3mm N：40μm |
| FN1.5-90 | F：0~1.5mm N：0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平面/5mm | 10mm | 5mm | F：0.3mm N：40μm | |
| FN5 | FN5HD | F：0~5mm N：0~2.5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | F：0.5mm |
德國(guó)EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性
德國(guó)EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性
德國(guó)EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性